Conception et réalisation d’environnements de tests de circuits intégrés

Cette consultation concerne des prestations de réalisation de cartes électroniques pour le test, et/ou pour la réalisation de tests d’un circuit intégré, sur la base d’une carte de test électronique développée par le prestataire, ou fournie par le CEA. Les prestations confiées au titulaire ont pour objet (liste non exhaustive) - La définition d’un environnement de test suivant un cahier des charges de test - Le développement de l’environnement de test, en particulier la conception et la réalisation de cartes de test dédiées au composant à tester - Le test de circuits intégrés analogiques et RF sur carte de test développée ou non par le titulaire - Le test de circuits intégrés numériques sur carte de test développée ou non par le titulaire - Le test de circuits intégrés mixtes sur carte de test développée ou non par le titulaire - Le test de mémoires de type OxRAM ou FeRAM sur carte de test développée ou non par le titulaire - La réalisation de démonstrateurs applicatifs qui embarquent une carte de test développée ou non par le titulaire