Fourniture d’un système d’inspection optique pour wafers non structurés (100, 150 et 200 mm) pour CEA-LETI
- Remise des offres
- Consultation clôturée
- Lots
- 1 lot
Le besoin
Acquisition d’un équipement unique d’inspection optique (bridge tool) pour wafers non structurés, capable d’inspecter des substrats de diamètres 100 mm, 150 mm et 200 mm avec une sensibilité avancée et des capacités de qualification/traitement associées, incluant livraison, installation, mise en service, essais et formation (avec options).
Lots (1)
Fourniture d’un système d’inspection optique compatible en 100, 150 et 200 mm
Marché sans allotissement portant sur l’achat d’un équipement unique d’inspection optique pour wafers non structurés. L’équipement doit permettre l’inspection des diamètres 100/150/200 mm avec sensibilité avancée (notamment <26 nm sur Silicium pour 150 et 200 mm, <70 nm sur Silicium pour 100 mm, <60 nm sur GaN) et des fonctionnalités de mesure/traitement (défauts, cartographie, photoluminescence), ainsi que la livraison, le montage, les essais, la mise en service, la formation et la garantie (avec option(s) et options de formation/extension).
L'acheteur
Autres organismes
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Territoires cités
- Grenoble9
- Bouches-du-Rhône7
- Monts5
- Isère5
- Bruyères-le-Châtel4
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Consultation clôturée depuis 88 jours.
Dossier de consultation (DCE)
Complet et disponible sur Semagora
Disponible
Remise des offres
Modalités précisées dans le règlement de consultation
Démarrage prévisionnel
Non communiqué dans l’avis
À venir
Pièces à fournir. Elles sont listées dans le règlement de consultation (RC) du dossier de consultation.
Avis officiel
Informations reprises de l'avis publié par l'acheteur. Les champs affichés dépendent de ce que la source rend disponible pour cette consultation.
- Source
- PLACE
- Référence source
- 3027214
- Avis publié sur
- www.marches-publics.gouv.fr
- Référence acheteur
- B2601643AT
Objet du marché
3 éléments
- Intitulé
- Fourniture d’un système d’inspection optique compatible en 100, 150 et 200mm
- Description officielle
- Pour ses activités de recherche et le développement de ses partenariats, CEA LETI souhaite acquérir un système d’inspection optique dédié aux wafers non structurés, capable d’inspecter des diamètres de 100 mm, 150 mm et 200 avec une sensibilité avancée. Le système sélectionné devra être en mesure d’inspecter des substrats de différents matériaux et épaisseurs.
- Lieu d’exécution
- France
Acheteur
3 éléments
- Organisme
- Autres organismes
- Acronyme organisme
- s2d
- Domaine consultation
- www.marches-publics.gouv.fr
Calendrier
1 élément
- Date limite
Documents de consultation
2 éléments
- Reglement
- 3 - Règlement de la consultation.pdf · 359 Ko
- Dce
- 5 - DCE.zip · 2,9 Mo
Modalités et références
3 éléments
- Annonce
- 3027214
- Référence règlement
- MzAyNzIxNA==
- Domaine consultation
- www.marches-publics.gouv.fr
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